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機器名 設置場所 管理者
(H27.4.1)
1) 透過型分析電子顕微鏡(TEM) W104
岸本
2) 小型走査イオン顕微鏡(FIB) W104
岸本
3) 走査型プローブ顕微鏡(SPM) W109
植杉
4) サーマル電界放出型走査電子顕微鏡(FE-SEM) W105
佐伯
5) 分析走査電子顕微鏡(SEM) W105
佐伯
6) 電子線マイクロアナライザー(EPMA) W207
桃野
7) 共焦点レーザー顕微鏡 Y509
岩佐



機器名 設置場所 管理者
(H27.4.1)
8) 水平型多目的X線回折装置(XRD) A144
中根
9) 湾曲IP X線回折装置(XRD)
W205
関根
10) ラマン分光測定装置
E102
酒井
11) 分子構造解析装置(NMR)
U106
中野
12) 磁気特性測定装置(MPMS-2)
R108

13) 物理特性測定装置(PPMS-7)
R108




機器名 設置場所 管理者
(H27.4.1)
14)DNA シーケンサー
X101
安居
15)MALDI-TOF-MS
X101 安居
16) 液体クロマトグラフ質量分析計(LC-MS)
X101 岩佐
17) ゲルマニウム半導体γ線検出器
W108
沖野
18) 原子吸光(AAS)
W304
技術部
19) 紫外-可視(UV-VIS)
W304 技術部
20) ガスクロマトグラフ(ECD&FID)
W304 技術部
21) 液体窒素供給システム(LN2-CE)
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